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      新聞中心
      普仁儀器亮相2013檢博會
      發布時間:2013-09-23        瀏覽次數:202        返回列表

      普仁儀器亮相2013檢博會
      為貫徹國家質檢總局“科技興檢”戰略,加強關鍵技術和科技裝備的應用,提升質檢科技水平“2013國際檢驗檢測技術與裝備博覽

      會暨全國檢驗檢測學術大會”于 2013年9月13日—15日在青島國際會展中心舉辦。“檢博會”旨在通過國內外檢驗檢測技術與裝備

      的展示與交流,加強質檢系統實驗室“技創新、技術支撐和一線技術保障”能力建設。
          青島普仁儀器將攜PIC系列離子色譜儀及PAS系列自動進樣器亮相展會,優質領先的儀器產品引起各直屬檢驗檢疫局、各地質量

      技術監督局相關人員,檢驗檢測技術專家及實驗室負責人,第三方檢驗檢測機構的濃厚興趣,大家紛紛前來普仁展臺,咨詢洽談。

       

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